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Présentation
Microscopie électronique
Placé sous la responsabilité d’un Ingénieur de Recherche (S. Nitsche) et d’un ingénieur d’étude (D.Chaudanson) le service comprend :
Pour la caractérisation des matériaux, 3 microscopes électroniques
un microscope électronique à balayage haute résolution Jeol JSM-6320F
Ce microscope est couplé à un système de microanalyse chimique par spectrométrie des RX (BRUKER Esprit) et à un système d’acquisition et d’analyse d’images numériques (NEWTEC).
Un microscope électronique à transmission haute résolution Jeol JEM-2010 analytique
Un microscope électronique à transmission très haute résolution Jeol JEM-3010 environnemental
Pour la préparation des échantillons, une salle est équipée d’appareillages spécifiques
scie à fil de précision, polisseuse, amincisseur ionique (PIPS), métalliseur, évaporateur de carbone, ultramicrotome, etc...
Le service est ouvert aux chercheurs, thésards, stagiaires du laboratoire, aux utilisateurs d’autres laboratoires, universités, industriels de la région, mais aussi d’autres régions françaises ainsi que de l’étranger (environ une centaine de personnes utilisent chaque année le service Microscopie Electronique). Ce service demeure un support essentiel dans les activités de recherche des groupes, matériaux minéralogiques, des agrégats et des hétérostructures semi-conductrices. Il a été déclaré "Facilité nationale de microscopie électronique en transmission haute résolution" de l’INSU / CNRS.
| Nom | Prénom | Tel | |
|---|---|---|---|
| Chaudanson | Damien | chaudanson@cinam.univ-mrs.fr | +33(0)6 62 92 28 40 |
| Nitsche | Serge | nitsche@cinam.univ-mrs.fr | +33(0)6 62 92 28 52 |
