L’ionisation de champ est le processus qui décrit l’ionisation des atomes d’une phase gazeuse lorsqu’ils sont soumis à un champ électrique intense près d’une surface « acceptrice » d’électrons. Par exemple, le microscope ionique de champ permet de visualiser les atomes de la surface d’une pointe métallique polarisée positivement face à un extracteur. Le gaz « image » est ionisé là où le champ est le plus fort, c’est à dire au niveau des atomes protubérants de la pointe métallique.
Ce processus peut être employé en tant que source d’ions : c’est celui qui est utilisé dans le microscope à Hélium. Les ions sont produits au niveau du trimère d’une pointe de tungstène orientée (111). La source obtenue est extrêmement brillante car la surface émissive peut être réduite à un atome.
La source d’ions à structure coaxiale utilise le même principe et a pour objectif d’augmenter l’apport de gaz en bout de pointe tout en conservant une pression basse sur le parcours des ions et limiter la neutralisation par collision.
