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ANR AHEAD (Analysis of High Entropy Alloy Dewetting)
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ANR GIBBS (Grain (Interface) Boundaries: Behaviour and Segregation)
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ESA (European Space Agency) LIPHASE (Liquid Phase Separation in Metallic Alloys)
e-PICS
Plateforme in-situ sous ultra-vide (UHV) pour l'étude de la chimie et de la structure d'échantillons par multi-analyses d'électrons.
Un canon d'électrons UHV (Orsay-Physics) est implanté sur une chambre ultra-vide équipée de plusieurs détecteurs/analyseurs d'électrons :
- détecteur d'électrons secondaires pour imager (Orsay-Physics)
- spectromètre d'électrons Auger pour analyser la chimie de surface (STAIB)
- caméra d'acquisition de cliché de diffraction d'électrons rétrodiffusés (EBSD) pour déterminer la structure et l'orientation (OXFORD instruments).
L'échantillon peut être préparé dans une chambre annexe avant d'être transféré sous UHV sur un porte-échantillon chauffant mobile en x-y-z et en rotation autour d'un axe horizontal.
Préparation échantillons
- nettoyage par bombardement ionique Ar
- dépôt PVD in situ à partir de différentes sources située dans la chambre principale
Caractérisation des phases/évolution de la morphologie
- recuit in-situ (jusqu’à 1050 K)
Acquisition/traitement de données
- Images en électrons secondaires avec une résolution de 10 nm à 25 kV
- Composition de surface (électrons Auger) résolution 80 microns (cartographie avec une résolution meilleure que 1 micron en 2019)
- Structure 3D et orientation (EBSD) résolution 30-50 nm
- Autres mesures ou sollicitations possibles moyennant l'intégration de nouveaux capteurs.
FOX
Four équipé d'un tube étanche en alumine pour recuit d'échantillons sous flux de gaz à pression partielle d'OXygène (PO2) contrôlée. Des hublots en bouts du tube permettent d'observer la forme des échantillons en fonction de la température (point de fusion) et de la PO2 (mouillage).
Préparation échantillons
- recuit sous flux de mélanges de gaz (Ar, O2, H2, CO2), jusqu’à 1250°C
- tube en alumine dédié par matériau pour éviter la contamination
Acquisition de données
- Enregistreur des cycles thermiques et mesure de point de fusion
- Visualisation des profils d'échantillon/de goutte posée grâce à un système caméra-moniteur avec enregistrement et/ou impression d'images.
CINAM
- NM (L. Michez, L. Santinacci)
- TSN (C. Varvenne)
National
- Ecoles des Mines-Paritech (Sophia-Antipolis, Saint Etienne)
- IMN (Institut des Matériaux de Nantes)
International
- Carnegie Mellon University (Pittsburgh, USA)
- MPIE, Max Planck Institute fur Eisenforschung (Dusseldorf, Germany)
Collaboration industrielles
- Orsay Physics (Rousset)
- Oxford Instrument (Cambridge, GB)
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Procédé de croissance de films minces monocristallins sur wafer de saphir
069 // STEPPHIRE - Réf/CNRS : DI11692-01 - Réf/AMU : 18D051 - Dépôt de la demande de brevet européen.