LT STM-Qplus

Scanner piézoélectrique :

Gamme de balayage X/Y/Z en fonction de la température :

300K : 10 µm x 10 µm x 1 µm
100K : 4 µm x 4 µm x 0.4 µm
5 K : 1.8 µm x 1.8 µm x 0.2 µm

Course X/Y/Z :

5 mm x 5 mm x 10 mm

Résolution en Z :

< 5 pm

Courant Tunnel :

< 1pA – 300 nA

Tension de polarisation :

± 0.5 mV à ± 10 V appliqué à la pointe, échantillon à la masse.

Gamme de température d’utilisation de l’étage microscope :

<= 5K à Ta, autonomie > 50h à 5K et > 200h à 77K.

Préparation d’échantillons : 

Les études peuvent être réalisées sur tout type d’échantillons : conducteurs ou semi-conducteurs en mode STM et isolants en mode AFM Qplus.

Contraintes de préparation d’échantillons : 

Taille maximale 7mm x7mm, épaisseur < 6mm

Milieu de travail :

Ultra-vide

Accessibilité :

Limité, après avis de faisabilité par le responsable scientifique (C. Becker) et disponibilité de l’appareillage.

 
 
Service microscopie à champ proche 12