Placé sous la responsabilité d’un ingénieur d’étude (D. Chaudanson) et d'un assistant ingénieur (A. Altié), le service comprend :
Pour la caractérisation des matériaux, 3 microscopes électroniques
- Un microscope électronique à balayage haute résolution Jeol JSM-7900F. Ce microscope est spécialisé dans l'étude à basse tension et est couplé à un système de microanalyse chimique par spectrométrie des RX (BRUKER Esprit).
- Un microscope électronique à transmission (LaB6) haute résolution Jeol JEM-2010 analytique (EDX bruker Esprit). Tomographie 3D
- Un microscope électronique à transmission (FEG) haute résolution Jeol JEM-2100F. Ce microscope est équipé d'un système analytique (EDS, JEOL) et d'un module STEM permettant l'utilisation d'un détecteur HAADF et de générer en mode EDX une cartographie élémentaire. Tomographie 3D TEM+STEM.
Nous sommes équipés d'un porte-objet environnemental POSEIDON (Protochips) avec possibilité de circulation et chauffage de solutions, utilisable sur nos deux TEM.
Pour la préparation des échantillons, une salle est équipée d’appareillages spécifiques
- Scie à fil de précision, polisseuses, amincisseur ionique (PIPS), métalliseur, évaporateur de carbone, ultramicrotome, etc...
Le service est ouvert aux chercheurs, thésards, stagiaires du laboratoire, aux utilisateurs d’autres laboratoires, universités, industriels de la région, mais aussi d’autres régions françaises ainsi que de l’étranger (environ une centaine de personnes utilisent chaque année le service de Microscopie Électronique). Ce service demeure un support essentiel dans les activités de recherche des groupes, matériaux minéralogiques, des agrégats et des hétérostructures semi-conductrices. Il a été déclaré "Facilité nationale de microscopie électronique en transmission haute résolution" de l’INSU / CNRS.
