Soutenance de thèse

Titre : Epitaxial growth and magnetic characterization of Mn₅(Si_xGe_1-x)₃ thin films on Ge(111)

Le jury se composera de :

Rapporteurs :

Laurence Méchin, Directrice de recherche, Laboratoire GREYC (UMR6072) CNRS – ENSICAEN – Université de Caen

Frédéric Chérioux, Directeur de recherche, Femto-St

Présidente :

Christine Robert-Goumet, Professeure, Institut Pascal, Université Clemront-Auvergne

Directeurs de thèse :

Matthieu Petit, Directeur de thèse, Maitre de conférence, CINAM

Jean-Manuel Raimundo, Do-directeur de thèse, Professeur, CINAM

Résumé :

Cette étude porte sur les propriétés structurelles et magnétiques des films minces Mn₅(Si_xGe_1-x)₃déposés sur des substrats Ge(111) avec des concentrations de silicium(x) allant de 0 à 1. Les films minces Mn₅Ge₃ sur Ge(111) et Mn₅Si₃ sur Si(111) présentent tous deux une structure hexagonale D8₈ (P63/mcm) mais diffèrent dans leurs propriétés magnétiques,

Mn₅Ge₃étant ferromagnétique et Mn₅Si₃ présentant un comportement anti-ferromagnétique complexe. Compte tenu de leurs propriétés distinctes, le système ternaire Mn₅(Si_xGe_1-x)₃ présente également un grand intérêt. En raison du nombre limité de recherches antérieures portant uniquement sur le système Mn₅(Si_xGe_1-x)₃ massif et polycristallin, cette étude s’est principalement concentrée sur les films minces Mn₅(Si_xGe_1-x)₃. Ces films minces cristallins ont été produits par

épitaxie par jets moléculaires grâce à la codéposition d’atomes de manganèse, de germanium et de silicium.

Article publié le 5 novembre 2024

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